半導体テストサミット(SemiTest)
- 次世代テスト技術:設計・製造・品質保証の最前線 -

形態:

複数社協賛型デジタルイベント

会期: 2027年2月2日(火)~2月4日(木)
来場者参加費: 無料

主催:

EE Times Japan
協力: MONOist/EDN Japan/Tech Factory

申込規模:

約1,500名想定

※過去開催の実績値に基づく想定値のため、実際には開催するテーマ数などに応じて前後する場合がございます。 

想定視聴者属性:

1. 半導体デバイスの設計、研究開発、プロセス、テストに携わるエンジニア

2. 半導体製造装置、半導体試験測定装置・材料の業界に携わるエンジニア

3. 製造、自動車、データセンターなどのユーザーインダストリーに携わるエンジニア

開催予定テーマ:

・半導体設計/半導体製造

・AI活用

・テスト

・評価/検査

・シミュレーション

・品質管理

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